技術(shù)文章_第(17)頁－北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司

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技術(shù)文章

2022
1-4

可以實(shí)時(shí)檢測(cè)形貌與元素信息的“鎢燈絲掃描電鏡”
鎢燈絲掃描電鏡成像平臺(tái)即時(shí)可用。彩色圖像讓成分分布更直觀，實(shí)時(shí)定量能譜分析讓科研更高效，低電壓及電子束減速模式配合經(jīng)典的CBS探頭(同軸環(huán)狀背散射探頭)使不導(dǎo)電樣品也可以在不鍍金條件下呈現(xiàn)*的成像性能。低真空則可以在不鍍膜的情況下對(duì)不導(dǎo)電樣品進(jìn)行更真實(shí)的能譜元素分析。專為快速分析而設(shè)計(jì)，智能型掃描電鏡，讓新手用戶也可以輕松操縱。鎢燈絲掃描電鏡將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺(tái)上，快速提供所需微觀形貌及實(shí)時(shí)成分信息，幫助學(xué)術(shù)和工業(yè)用戶快速獲得全面、可靠的數(shù)據(jù)，準(zhǔn)確執(zhí)行故障分...
2021
12-6

專為快速分析而設(shè)計(jì)的“賽默飛電子顯微鏡”
賽默飛電子顯微鏡引入全新的能譜分析概念，采用*方法進(jìn)行樣品成分信息的采集、處理和展示。傳統(tǒng)能譜會(huì)利用二次電子或背散射電子信息，卻不利用其圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，因而數(shù)據(jù)獲取速度較慢，而且圖像分辨率相對(duì)粗糙。相比而言，賽默飛顯微鏡采集數(shù)據(jù)所用的是同一掃描發(fā)生器，將掃描電鏡圖像與能譜圖像對(duì)中，因而圖像更加銳利，圖像噪音更少。此外，脈沖處理采用自適應(yīng)脈沖整形技術(shù)，確保各種條件下均能獲得可靠數(shù)據(jù)。元素分布圖通過定量算法形成，因此，所顯示的成分?jǐn)?shù)據(jù)可靠，且結(jié)果中不會(huì)出現(xiàn)重疊峰誤判等。專有的陰...
2021
12-3

掃描電鏡顯微鏡在不同行業(yè)中的應(yīng)用
由于掃描電鏡顯微鏡的高分辨率和大焦深，使得它可以對(duì)各種化學(xué)物質(zhì)進(jìn)行非常詳細(xì)的分析。它打破了傳統(tǒng)臺(tái)式掃描電鏡采用BSD探測(cè)器成像的局限性，利用創(chuàng)新的雙聚光鏡成像技術(shù)，采用大型掃描電鏡成像方式，使用二次電子探測(cè)器作為基礎(chǔ)成像單元，從而，可以獲得更高的分辨率，是真正意義上的高分辨率臺(tái)式掃描電鏡。在檢查半導(dǎo)體和微電子器件時(shí)，需要靈活選擇和使用操作參數(shù)(加速電壓、樣品傾斜、掃描線時(shí)間等)以及正確的分析程序，以獲得最大的信息。QFN器件中由濕熱環(huán)境(如吸濕)引起的界面裂紋很常見，會(huì)導(dǎo)致器...
2021
11-12

看看這些內(nèi)容，這是你想了解的STEM透射電鏡嗎？
STEM透射電鏡是怎么來的？掃描電子顯微鏡已成為表征物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)*的儀器。在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質(zhì)發(fā)生相互作用，可產(chǎn)生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號(hào)，通過采集二次電子、背散射電子得到有關(guān)物質(zhì)表面微觀形貌的信息，背散射電子衍射花樣得到晶體結(jié)構(gòu)信息，特征X-射線得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息，這些得到的都是接近樣品表面的信息。在掃描電鏡中，電子束與薄樣品相互作用時(shí)，會(huì)有一部分電子透過樣品，這一部分透射電子也可用來成像，其形成的像就是掃描透射像(STEM像)。STEM...
2021
11-9

什么行業(yè)可以使用環(huán)境掃描電鏡？它能在你的行業(yè)中使用嗎？
環(huán)境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調(diào)，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)，試樣制備簡(jiǎn)單。它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。環(huán)境掃描電鏡的應(yīng)用范圍：1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物和化工產(chǎn)品的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析。2、各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定量檢測(cè)。3、粉末、微粒、納...
2021
11-5

聚焦離子束電鏡究竟有何不同？
隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束(FIB)技術(shù)利用高強(qiáng)度聚焦離子束對(duì)材料進(jìn)行納米加工，配合聚焦離子束電鏡等高倍數(shù)電子顯微鏡實(shí)時(shí)觀察，成為了納米級(jí)分析、制造的主要方法。目前已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路修改、切割和故障分析等。典型的聚焦離子束電鏡包括液態(tài)金屬離子源及離子引出極、預(yù)聚焦極、聚焦極所用的高壓電源、電對(duì)中、消像散電子透鏡、掃描線圈、二次粒子檢測(cè)器、可移動(dòng)的樣品基座...
2021
11-2

一文帶你認(rèn)識(shí)球差電鏡！
球差電鏡，什么是球差？球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差(球差、像散、彗形像差和色差)的存在，無論是光學(xué)透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統(tǒng)都無法做到。光學(xué)透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強(qiáng)中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法匯聚到一個(gè)焦點(diǎn)的缺點(diǎn)，可對(duì)于電磁透鏡，我們沒有凹透鏡，球差便成了影響TEM分辨率最主要也最難解決的問題。球差電鏡，球差是由什么產(chǎn)生的？TEM中包含多個(gè)磁透鏡：聚光鏡、物鏡、中間鏡和投影鏡等。球差是由...
2021
10-21

高分辨率掃描電鏡的檢測(cè)范圍和基本構(gòu)造
高分辨率掃描電鏡是電子顯微鏡的一種，其原理是利用二次電子或背散射電子成像，對(duì)樣品表面放大一定的倍數(shù)進(jìn)行形貌觀察，同時(shí)利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來對(duì)微區(qū)的成分進(jìn)行定性定量分析，是我們材料研究分析中一雙亮麗的“眼睛”。掃描電鏡按照電子槍分類可以分為鎢(W)燈絲、六硼化鑭(LaB6)燈絲、場(chǎng)發(fā)射三種，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡相比于鎢燈絲、六硼化鑭，具有電子束斑小、高分辨率、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)。高分辨率掃描電鏡的檢測(cè)范圍：1.金屬、陶瓷、高分子、礦物、半導(dǎo)體、紙張、化工產(chǎn)品的顯微形貌觀察及...
2021
10-18

PFIB顯微鏡的小知識(shí)，快來學(xué)習(xí)一下！
PFIB顯微鏡是一款雙束電鏡，它可以簡(jiǎn)單理解為單束聚焦離子束系統(tǒng)與普通SEM的耦合。單束聚焦離子束系統(tǒng)由離子源、離子光學(xué)柱、束描畫系統(tǒng)、信號(hào)采集系統(tǒng)和樣品臺(tái)五個(gè)部分構(gòu)成。離子源設(shè)置在離子束鏡筒的頂端，在其上加較強(qiáng)的電場(chǎng)可以抽取出帶正電荷的離子，這些離子通過靜電透鏡及偏轉(zhuǎn)裝置的聚焦和偏轉(zhuǎn)來實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的可控掃描。樣品加工是通過將加速的離子轟擊樣品使其表面原子發(fā)生濺射來實(shí)現(xiàn)，同時(shí)產(chǎn)生的二次電子和二次離子被相應(yīng)的探測(cè)器收集并用于成像。為了避免離子束受周圍氣體分子的影響，與掃描電鏡類似...
2021
10-14

環(huán)掃電鏡常見分類和應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)掃電鏡是一種掃描電子顯微鏡，利用聚焦電子束掃描樣品的表面來產(chǎn)生樣品表面的圖像。最常見的掃描電鏡模式是檢測(cè)由電子束激發(fā)的原子發(fā)射的二次電子?？梢詸z測(cè)的二次電子的數(shù)量，取決于樣品測(cè)繪學(xué)形貌。環(huán)掃電鏡常見分類：1.分析掃描電鏡:掃描電鏡配備X射線能譜儀EDS后發(fā)展成分析掃描電鏡，不僅比X射線波譜儀WDS分析速度快、靈敏度高、也可進(jìn)行定性和無標(biāo)樣定量分析。2.場(chǎng)發(fā)射槍掃描電鏡：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡得到了很大的發(fā)展，不僅提高了常規(guī)加速電壓時(shí)的分辨本領(lǐng)，還顯著改善了低壓性能。3.低壓掃描電鏡...

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